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產(chǎn)品中心
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基礎(chǔ)型 TEM 小室 返回
產(chǎn)品概述
該產(chǎn)品是一個 2 GHz 的橫電磁波(TEM)小室,能夠產(chǎn)生均勻橫電磁場,用于測試小型集成電路,如芯片、無線通信模塊等。測試輻射發(fā)射時, 集成電路在小室中發(fā)射的輻射場可以通過端口使用電磁波接收器進(jìn)行測量。測試抗擾度時,通過小室的輸入端口施加的外部測試信號在 小室內(nèi)導(dǎo)體上方產(chǎn)生 TEM 測試場。
符合標(biāo)準(zhǔn):
IEC 61967-2 集成電路電磁發(fā)射測量 150kHz ~ 1GHz 第 2 部分:輻射發(fā)射測量 TEM 小室法 SAE J1752/3 集成電路 TEM/ 寬帶 TEM(GTEM)小室法的輻射發(fā)射測量;TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、寬帶 TEM 小室(150 kHz
至 18 GHz) IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測量 第 2 部分:輻射抗擾度測量 TEM 小室和 GTEM 小室法
應(yīng)用領(lǐng)域:
用于測試小型集成電路,如芯片、無線通信模塊等
技術(shù)參數(shù):
頻段
DC – 2 GHz
阻抗
50 Ω ± 5 %
電壓駐波比
DC - 3 GHz < 1.25
插入損耗 DC - 2 GHz < 1 dB
回波損耗
DC - 2 GHz > 20 dB
射頻接口
N 型接口
待測電路板尺寸
100 × 100 mm

配件:
視頻播放:

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